Eftersom högtalaren måste drivas ganska hårt för att få tillräcklig insignal vid en meters avstånd, vill jag helst mäta vid kortare avstånd.
Det är också svårt att undvika reflektioner vid MLS mätning vid 1m.
De frekvenskurvor som tillverkare uppger, mäts såvitt jag förstår oftast vid 1 m avstånd? Samtidigt så använder man ju sig av sk närfältsmätningar i tex Speaker workshop, med avstånd på någon cm. För mig så blir resultatet ganska så olika om jag mäter vid 1 cm jämfört med 1m. Jag talar nu om mätning av ett element "on axis" i låda.
Vilken metod ger mest rättvisande resultat, att tex jämföra med fabrikanternas kurvor? Vilken metod är bäst när man konstruerar filter?
Bör man mäta baselement och diskanter med olika avstånd? Kan det bli någon slags stående våg mellan mik'en och högtalaren som ger toppar eller dippar i kurvan?
Jag inser att vid mätning med Tombstone, så spelar rummet in ganska mycket, men vid MLS mätning med SW, så borde det inte spela någon roll så länge gaten är ställd rätt.(?)
(Högtalaren är ställd på en 1m hög pelare mitt i ett 25 m2 stort rum, och jag har inte haft några problem med reflektioner förrän avståndet mellan mik och högt närmar sig 1m)
Många frågor
någon som har svar 
