Moderator: Redaktörer
Belker skrev:Jag har REW,UMIK1 och i14 + bas. Vad vill du att jag gör? (Jag kommer inte flytta någon högtalare)
I-or skrev:Det är lite lurigt att mäta distorsion i en reflektiv miljö som i rum. Eftersom frekvensgången varierar kraftigt, med toppar och framförallt djupa och smala dalar om 20-30 dB eller så, kommer grundtonen och övertonerna att få fel relativ nivå. Detta gör att distorsionskurvan kommer att uppvisa stora variationer. För att reducera detta problem kan man mäta på kortare avstånd, t.ex. 315 mm (vilket motsvarar 10 dB högre ljudtrycksnivå för en punktkälla). Om man inte har möjlighet att absolutnivåkalibrera mikrofonen kan man ange spänningen över högtalarkontakterna. Det viktiga är att man noga anger förutsättningarna för mätningen.
RogerGustavsson skrev:Dessutom hamnar distorsionen väldigt nära mätmikrofonernas brusgolv vid mätning av lågdistorerande högtalare. Brusgolvet kan visas i REW med UMIK-1.
I-or skrev:Det är lite lurigt att mäta distorsion i en reflektiv miljö som i rum. Eftersom frekvensgången varierar kraftigt, med toppar och framförallt djupa och smala dalar om 20-30 dB eller så, kommer grundtonen och övertonerna att få fel relativ nivå. Detta gör att distorsionskurvan kommer att uppvisa stora variationer. För att reducera detta problem kan man mäta på kortare avstånd, t.ex. 315 mm (vilket motsvarar 10 dB högre ljudtrycksnivå för en punktkälla). Om man inte har möjlighet att absolutnivåkalibrera mikrofonen kan man ange spänningen över högtalarkontakterna. Det viktiga är att man noga anger förutsättningarna för mätningen.
Belker skrev:Det var visst L+R ser jag nu.
Baffel skrev:Men öhööö är inte det intressanta hur mycket distorsion det är vid den plats man lyssnar på? Inte sitter man och lyssnar 315 mm från högtalarna.
Baffel skrev:I-or skrev:Det är lite lurigt att mäta distorsion i en reflektiv miljö som i rum. Eftersom frekvensgången varierar kraftigt, med toppar och framförallt djupa och smala dalar om 20-30 dB eller så, kommer grundtonen och övertonerna att få fel relativ nivå. Detta gör att distorsionskurvan kommer att uppvisa stora variationer. För att reducera detta problem kan man mäta på kortare avstånd, t.ex. 315 mm (vilket motsvarar 10 dB högre ljudtrycksnivå för en punktkälla). Om man inte har möjlighet att absolutnivåkalibrera mikrofonen kan man ange spänningen över högtalarkontakterna. Det viktiga är att man noga anger förutsättningarna för mätningen.
Men öhööö är inte det intressanta hur mycket distorsion det är vid den plats man lyssnar på? Inte sitter man och lyssnar 315 mm från högtalarna.
Morello skrev:Den grafen visar tyvärr inte så mycket då det inte framgår vid vilken nivå man mätt. Baselementet i OA52 är dock välkänt och inte speciellt lågdistorderande vid mellanhöga frekvenser. Vid åga frekvenser presterar elementet hyggligt väl givet den begränsade membranarean.
STDI skrev:Morello skrev:Den grafen visar tyvärr inte så mycket då det inte framgår vid vilken nivå man mätt. Baselementet i OA52 är dock välkänt och inte speciellt lågdistorderande vid mellanhöga frekvenser. Vid åga frekvenser presterar elementet hyggligt väl givet den begränsade membranarean.
Bilden som hifikg visar är för OA52.2 alltså med bas SS8545. Gäller samma slutsatser för den?
Användare som besöker denna kategori: Bing [Bot] och 2 gäster